薄膜測厚儀要考慮的測量參數(shù)都有哪些?
更新時(shí)間:2021-08-25 點(diǎn)擊次數(shù):1891
薄膜測厚儀是一種薄膜厚度測量儀器,已經(jīng)在很多行業(yè)得到應(yīng)用,方便了很多人的測量工作。那么你對它有什么了解呢?
1、測量范圍廣
膜厚儀的測量范圍很廣,可以從薄膜到厚膜測量厚度,不會(huì)因測量材料的變化而給厚度測量操作帶來任何不便。
2、先進(jìn)的厚度分析方法
膜厚測量儀的厚度分析方法采用絕對反射光譜分析方法,與其他類型的測厚儀相比,在測量精度和測量速度方面具有顯著優(yōu)勢。
3、操作簡單
膜厚儀采用人性化設(shè)計(jì),使儀器膜厚的測量更加容易,無需復(fù)雜的測量操作,相關(guān)測量人員只需進(jìn)行簡單的操作設(shè)備操作培訓(xùn)。
4、外觀新穎
測量儀的外觀也進(jìn)行了全新的設(shè)計(jì)。整體外觀更加*新穎。相較于傳統(tǒng)測厚儀呆板的外形,更吸引了人們的眼球。
5、實(shí)現(xiàn)光學(xué)常數(shù)分析功能
膜厚儀采用非光學(xué)數(shù)據(jù)分析方法,實(shí)現(xiàn)了光學(xué)常數(shù)的分析,不僅加快了測厚速度時(shí)間,而且還進(jìn)一步提高了其精度,為人們提供了更準(zhǔn)確的膜厚測量數(shù)據(jù)。
薄膜測厚儀要考慮的測量參數(shù)都有哪些?
1、測量波長
薄膜測厚儀的測量波長在450nm-780nm之間,更寬的波長測量范圍可以實(shí)現(xiàn)更快的光學(xué)測厚過程。
2、測量精度
本測量儀的測量精度在0.2nm誤差范圍內(nèi)。
3、鹵素?zé)?/div>
薄膜測厚儀的光源采用鹵素?zé)?,不僅提供了充足的光源照度,而且減少了對眼睛的傷害,它具有非常人性化的設(shè)計(jì)。