薄膜測厚儀如何讀數(shù)?
更新時間:2023-08-01 點擊次數(shù):2338
在生產(chǎn)制造、質(zhì)量檢測等行業(yè),薄膜測厚儀是一種常用的檢測工具。通過這款儀器,我們能夠精準(zhǔn)地測量出薄膜的厚度,進(jìn)一步確保產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)效率。然而,許多人在使用測厚儀時,卻不知道如何正確讀數(shù)。測厚儀主要依靠電磁場、渦流、超聲波等方法,對薄膜的厚度進(jìn)行測量。不同類型的測厚儀,采用的方法也不同。
1、電磁場測厚儀
電磁場測厚儀主要依靠電磁波測量薄膜厚度。在測量過程中,測厚儀發(fā)射電磁波,當(dāng)電磁波遇到薄膜時,會發(fā)生反射。通過分析反射波的頻率,我們能夠計算出薄膜的厚度。
讀數(shù)方法:將測厚儀緊貼薄膜表面,調(diào)整測頭位置,使其與薄膜表面接觸。然后按下測量鍵,等待儀器自動完成測量。測量完成后,液晶屏幕上會顯示薄膜的厚度值。
2、渦流測厚儀
渦流測厚儀通過測量薄膜表面的電渦流,來計算薄膜厚度。在測量過程中,渦流測厚儀發(fā)射高頻交流電,當(dāng)交流電遇到薄膜時,會在薄膜表面產(chǎn)生渦流。通過分析渦流的大小,我們能夠計算出薄膜的厚度。
讀數(shù)方法:將測厚儀緊貼薄膜表面,調(diào)整測頭位置,使其與薄膜表面接觸。然后按下測量鍵,等待儀器自動完成測量。測量完成后,液晶屏幕上會顯示薄膜的厚度值。
3、超聲波測厚儀
超聲波測厚儀通過發(fā)射超聲波,并接收反射波來測量薄膜厚度。在測量過程中,超聲波測厚儀發(fā)射超聲波,遇到薄膜后,超聲波會發(fā)生反射。通過分析反射波的時間差,我們能夠計算出薄膜的厚度。
讀數(shù)方法:將測厚儀緊貼薄膜表面,調(diào)整測頭位置,使其與薄膜表面接觸。然后按下測量鍵,等待儀器自動完成測量。測量完成后,液晶屏幕上會顯示薄膜的厚度值。
通過以上方法,我們能夠正確地使用薄膜測厚儀,并獲得準(zhǔn)確的測量結(jié)果。在生產(chǎn)和質(zhì)量控制中,準(zhǔn)確的薄膜厚度測量是確保產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵。因此,掌握測厚儀的使用方法,對于生產(chǎn)和質(zhì)量控制來說至關(guān)重要。